六面外观检测设备

Six-Surface Inspection Equipment

镁伽研制的MRS-HI4100系列六面外观检测设备,是专门用于检测半导体封装上各种缺陷的AOI设备。本产品基于IntellVega 视觉平台,采用模块化设计,可适用多种封装的检测。可检测项包括混料、部件缺失、异物、溢胶、气泡、 划伤、露铜、引脚变形等外观缺陷。

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产品优势

ADVANTAGES

  • 01

    高通量

    最大可达12000pcs/min的检测速度
  • 02

    通用性强

    可检测电阻电容电感、LED、磁环、半导体芯片; 最小尺寸产品0.6x0.3x0.2mm检测
  • 03

    高准确率

    基于IntellVega 视觉平台实现缺陷判定,可以检测100多种缺陷;检测精度<10um
  • 04

    简单易操作

    智能化、数字化的显示;软件模块化连线操作,可视化显示,易操作的UI交互界面
  • 05

    稳定可靠

    高精度伺服、高频电磁阀(<2ms响应速度,>50亿次寿命)、高性能光学玻璃转盘

产品参数

SPECIFICATION

规格 单位 参数
适用产品尺寸 mm <8 × 13
最高通量 pcs/min 12000
电磁阀寿命 million 500
光源类型 - 三色高亮
机器尺寸 mm 800 x 800 x 1780
电源 V 220
压缩空气 Mpa 0.5
设备重量 kg 400

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